光學(xué)粗糙度儀的測(cè)量方法
日期：2025-07-02 01:03
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摘要：
光學(xué)粗糙度儀為測(cè)量粗糙度的高精度精密儀器；該儀器采用德國先進(jìn)技術(shù)，優(yōu)化的結(jié)構(gòu)和簡易的操作設(shè)計(jì)，使得該高效率設(shè)備得到更易的使用，是積累數(shù)十年的表面計(jì)量學(xué)經(jīng)驗(yàn)，結(jié)合未來焦點(diǎn)技術(shù)生產(chǎn)的*新計(jì)量設(shè)備，它囊括了各大實(shí)驗(yàn)室、車間和檢測(cè)部門所有常用的，基于國際標(biāo)準(zhǔn)的粗糙度測(cè)量。
比較法：將被測(cè)表面與標(biāo)有一定評(píng)定參數(shù)值的表面粗糙度樣板比較從判斷被測(cè)表面的粗糙度。
光切法：應(yīng)用光切原理測(cè)量表面粗糙度的一種測(cè)量方法。按光切原理制成的儀器叫做光切顯微鏡。這種方法用來測(cè)量Rz.
干涉法：利用光波干涉原理測(cè)量表面粗糙度的一種方法。按干涉原理制成的儀器叫做干涉顯微鏡，一般用來測(cè)量粗糙度值要求低的表面。
針描法：接觸式測(cè)量表面粗糙度的方法，為常見。
當(dāng)然方便快捷的話，還是需要3D光學(xué)粗糙度儀。
